关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Harsh S. · 已于 over 1 year前审核

Varsini M. · 已于 over 1 year前审核

Neelam N. · 已于 over 1 year前审核

محمد ع. · 已于 over 1 year前审核

Nikhil P. · 已于 over 1 year前审核

Yash U. · 已于 over 1 year前审核

Anwesha S. · 已于 over 1 year前审核

Shreeya M. · 已于 over 1 year前审核

JyotleenKaur S. · 已于 over 1 year前审核

Shouvik M. · 已于 over 1 year前审核

Nikhil J. · 已于 over 1 year前审核

Santosh G. · 已于 over 1 year前审核

Avinash A. · 已于 over 1 year前审核

saurabh m. · 已于 over 1 year前审核

good lab

ayushchoudhary G. · 已于 over 1 year前审核

Chandana Deeksha P. · 已于 over 1 year前审核

thatha p. · 已于 over 1 year前审核

Ummul Q. · 已于 over 1 year前审核

disturb

Satatya M. · 已于 over 1 year前审核

sejal k. · 已于 over 1 year前审核

Simran K. · 已于 over 1 year前审核

PRAVEEN KUMAR B. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek G. · 已于 over 1 year前审核

Tanishka B. · 已于 over 1 year前审核

KATASANI B. · 已于 over 1 year前审核