关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Pratista P. · 已于 over 1 year前审核

Munir K. · 已于 over 1 year前审核

Pramesti M. · 已于 over 1 year前审核

Raj V. · 已于 over 1 year前审核

Aman P. · 已于 over 1 year前审核

Aniket T. · 已于 over 1 year前审核

ali i. · 已于 over 1 year前审核

Ujwal K. · 已于 over 1 year前审核

Kartik M. · 已于 over 1 year前审核

good

Anirudh T. · 已于 over 1 year前审核

Jayash M. · 已于 over 1 year前审核

Venkatesh Y. · 已于 over 1 year前审核

Asutosh M. · 已于 over 1 year前审核

Rupsa B. · 已于 over 1 year前审核

good!!

Dunna S. · 已于 over 1 year前审核

Vijay Kumar P. · 已于 over 1 year前审核

Tushar V. · 已于 over 1 year前审核

Rohit c. · 已于 over 1 year前审核

Shrikant m. · 已于 over 1 year前审核

Prerna A. · 已于 over 1 year前审核

Mahak S. · 已于 over 1 year前审核

Sagar D. · 已于 over 1 year前审核

Dibyasha J. · 已于 over 1 year前审核

Indrajit B. · 已于 over 1 year前审核

Megha K. · 已于 over 1 year前审核