关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

good lab

Sakshi Y. · 已于 over 1 year前审核

Pikai M. · 已于 over 1 year前审核

Krishna T. · 已于 over 1 year前审核

Masito a. · 已于 over 1 year前审核

Nikesh B. · 已于 over 1 year前审核

shrawani A. · 已于 over 1 year前审核

Sidharth P. · 已于 over 1 year前审核

Ronanki R. · 已于 over 1 year前审核

Radhika S. · 已于 over 1 year前审核

Sanika Z. · 已于 over 1 year前审核

Syed md F. · 已于 over 1 year前审核

Meghana M. · 已于 over 1 year前审核

Very Satisfied

Yash K. · 已于 over 1 year前审核

Chaithhanya Sai K. · 已于 over 1 year前审核

Yash C. · 已于 over 1 year前审核

Bhavya U. · 已于 over 1 year前审核

good

Sharmila N. · 已于 over 1 year前审核

Debalina G. · 已于 over 1 year前审核

ANCHIT M. · 已于 over 1 year前审核

Prateek C. · 已于 over 1 year前审核

Shruti J. · 已于 over 1 year前审核

nice

Manali T. · 已于 over 1 year前审核

Farah R. · 已于 over 1 year前审核

IOT_04_Anurag Kumar Singh G. · 已于 over 1 year前审核

Pranjal M. · 已于 over 1 year前审核