关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Techie S. · 已于 over 1 year前审核

Devangshi P. · 已于 over 1 year前审核

Mahima D. · 已于 over 1 year前审核

Anshika S. · 已于 over 1 year前审核

MD AZIZ A. · 已于 over 1 year前审核

Luis R. · 已于 over 1 year前审核

sahana s. · 已于 over 1 year前审核

Satheerth K. · 已于 over 1 year前审核

Aabid N. · 已于 over 1 year前审核

Sneha A. · 已于 over 1 year前审核

Pritesh P. · 已于 over 1 year前审核

Vinit S. · 已于 over 1 year前审核

Yosani Z. · 已于 over 1 year前审核

Wisesa S. · 已于 over 1 year前审核

Aniket W. · 已于 over 1 year前审核

Jatin V. · 已于 over 1 year前审核

Diya S. · 已于 over 1 year前审核

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Shivraj P. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Aman K. · 已于 over 1 year前审核

Atindra G. · 已于 over 1 year前审核

Mrunal M. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Subhara Jyoti N. · 已于 over 1 year前审核

Abdulla H. · 已于 over 1 year前审核

MADHUJA K. · 已于 over 1 year前审核