关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mayank Kumar M. · 已于 over 1 year前审核

Geetanjali S. · 已于 over 1 year前审核

easy one.

Ɗʜʀʋv S. · 已于 over 1 year前审核

Shyam V. · 已于 over 1 year前审核

M.SALMAN A. · 已于 over 1 year前审核

VENKATA TEJA U. · 已于 over 1 year前审核

Kamtina M. · 已于 over 1 year前审核

Sonali B. · 已于 over 1 year前审核

Akmal K. · 已于 over 1 year前审核

Arpan P. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Nikhil prafulla P. · 已于 over 1 year前审核

Vivek K. · 已于 over 1 year前审核

Siddhant J. · 已于 over 1 year前审核

Ferry Yun K. · 已于 over 1 year前审核

Prathamesh B. · 已于 over 1 year前审核

Kariveda S. · 已于 over 1 year前审核

Saigurucharan K. · 已于 over 1 year前审核

noicee

sakshi G. · 已于 over 1 year前审核

Tausheer Alam S. · 已于 over 1 year前审核

Gous S. · 已于 over 1 year前审核

SACHIN S. · 已于 over 1 year前审核

Rajesh R. · 已于 over 1 year前审核

AYAAN A. · 已于 over 1 year前审核

Monish S. · 已于 over 1 year前审核

Gaytri P. · 已于 over 1 year前审核