关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Rohak A. · 已于 over 1 year前审核

Kartik B. · 已于 over 1 year前审核

Smita S. · 已于 over 1 year前审核

Aradhana J. · 已于 over 1 year前审核

Ujjwal S. · 已于 over 1 year前审核

Suryansh G. · 已于 over 1 year前审核

Parth S. · 已于 over 1 year前审核

Sumit S. · 已于 over 1 year前审核

Rudra S. · 已于 over 1 year前审核

Sibaprasad m. · 已于 over 1 year前审核

Riya K. · 已于 over 1 year前审核

Shrushti G. · 已于 over 1 year前审核

Sahil Singh R. · 已于 over 1 year前审核

Chinmay C. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Vishnu K R. · 已于 over 1 year前审核

Kartikey Y. · 已于 over 1 year前审核

Saswat B. · 已于 over 1 year前审核

Purva M. · 已于 over 1 year前审核

sudhir m. · 已于 over 1 year前审核

Kadambari Y. · 已于 over 1 year前审核

Gayathri G. · 已于 over 1 year前审核

manisha s. · 已于 over 1 year前审核

HIMANSHU G. · 已于 over 1 year前审核

Suwandi A. · 已于 over 1 year前审核

Sanjaya S. · 已于 over 1 year前审核