关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Satria G. · 已于 over 1 year前审核

Bedatroyee B. · 已于 over 1 year前审核

Ram G. · 已于 over 1 year前审核

Sakshi O. · 已于 over 1 year前审核

Diljith k. · 已于 over 1 year前审核

Namra V. · 已于 over 1 year前审核

good

Ammara P. · 已于 over 1 year前审核

ff

qlab j. · 已于 over 1 year前审核

Prachi S. · 已于 over 1 year前审核

Phabindra Kumar S. · 已于 over 1 year前审核

Nandish M. · 已于 over 1 year前审核

Kartik G. · 已于 over 1 year前审核

G A. · 已于 over 1 year前审核

VENKATESWARA RAO B. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Shivam K. · 已于 over 1 year前审核

done

Satyam R. · 已于 over 1 year前审核

Hemanth kumar Reddy J. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika P. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika Devdatta P. · 已于 over 1 year前审核

Thirumalesh B. · 已于 over 1 year前审核

good

Anugrah G. · 已于 over 1 year前审核

Vishal M. · 已于 over 1 year前审核

RAJNI P. · 已于 over 1 year前审核

good

Mayur P. · 已于 over 1 year前审核

Sabittwa B. · 已于 over 1 year前审核