关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Abhinaya A. · 已于 over 1 year前审核

Ananya G. · 已于 over 1 year前审核

Mahendar c. · 已于 over 1 year前审核

Shooting S. · 已于 over 1 year前审核

great

Pankaj N. · 已于 over 1 year前审核

Naitik P. · 已于 over 1 year前审核

Good

Suvetha S. · 已于 over 1 year前审核

Amborish S. · 已于 over 1 year前审核

Akundi A. · 已于 over 1 year前审核

Gokul M. · 已于 over 1 year前审核

Ok

Ahmad M. · 已于 over 1 year前审核

Dimple S. · 已于 over 1 year前审核

Yash S. · 已于 over 1 year前审核

Sushmita S. · 已于 over 1 year前审核

VANSH K. · 已于 over 1 year前审核

achal b. · 已于 over 1 year前审核

Sameer D. · 已于 over 1 year前审核

V P. · 已于 over 1 year前审核

032_Brishti Mondal G. · 已于 over 1 year前审核

Chinmay B. · 已于 over 1 year前审核

Akanksha J. · 已于 over 1 year前审核

Harsh K. · 已于 over 1 year前审核

Dibyendu P. · 已于 over 1 year前审核

83 Debanjali B. · 已于 over 1 year前审核

Abhinand M. · 已于 over 1 year前审核