关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Deep Kumar G. · 已于 over 1 year前审核

Yogesh G. · 已于 over 1 year前审核

Pritam A. · 已于 over 1 year前审核

SACHIN S. · 已于 over 1 year前审核

Rajsing P. · 已于 over 1 year前审核

Kratika G. · 已于 over 1 year前审核

Prasad K. · 已于 over 1 year前审核

RAJ S. · 已于 over 1 year前审核

Om D. · 已于 over 1 year前审核

Sradha G. · 已于 over 1 year前审核

Kartik J. · 已于 over 1 year前审核

Shivang P. · 已于 over 1 year前审核

RAHUL R. · 已于 over 1 year前审核

VRUSHABH P. · 已于 over 1 year前审核

Yash P. · 已于 over 1 year前审核

Khushi G. · 已于 over 1 year前审核

UTKARSH B. · 已于 over 1 year前审核

Vinayak Kumar S. · 已于 over 1 year前审核

Razia K. · 已于 over 1 year前审核

Erik Feri F. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

SWARNENDU G. · 已于 over 1 year前审核

Sai Sanjibani N. · 已于 over 1 year前审核

great labs

Navneet K. · 已于 over 1 year前审核

Pravesh T. · 已于 over 1 year前审核

Dreemi P. · 已于 over 1 year前审核