关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Ansh K. · 已于 over 1 year前审核

Mansi S. · 已于 over 1 year前审核

uday c. · 已于 over 1 year前审核

Sangeetha G. · 已于 over 1 year前审核

Anitha Rani K. · 已于 over 1 year前审核

Rishabh V. · 已于 over 1 year前审核

Madirakshi J. · 已于 over 1 year前审核

Tirth M. · 已于 over 1 year前审核

Vijay S. · 已于 over 1 year前审核

Subhas M. · 已于 over 1 year前审核

Anitha Rani K. · 已于 over 1 year前审核

Nikita N. · 已于 over 1 year前审核

RISHAV K. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Bipin C. · 已于 over 1 year前审核

KRUTIKA T. · 已于 over 1 year前审核

Partha Sarathi M. · 已于 over 1 year前审核

Debayani D. · 已于 over 1 year前审核

uday r. · 已于 over 1 year前审核

Tejas K. · 已于 over 1 year前审核

Sai Sanjibani N. · 已于 over 1 year前审核

Arkajyoti N. · 已于 over 1 year前审核

gn

K V. · 已于 over 1 year前审核

Mohammad A. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi S. · 已于 over 1 year前审核