关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Tripti T. · 已于 over 1 year前审核

Indranil P. · 已于 over 1 year前审核

SACHIN S. · 已于 over 1 year前审核

Rohini K. · 已于 over 1 year前审核

PADALA A. · 已于 over 1 year前审核

ok

ANUSHKA B. · 已于 over 1 year前审核

very good lab

Jiban das D. · 已于 over 1 year前审核

Jaimit T. · 已于 over 1 year前审核

MAYUR M. · 已于 over 1 year前审核

Dipen patel A. · 已于 over 1 year前审核

Lokesh M. · 已于 over 1 year前审核

Het L. · 已于 over 1 year前审核

nice

Mihir J. · 已于 over 1 year前审核

Gungun V. · 已于 over 1 year前审核

Yash H. · 已于 over 1 year前审核

good

Sakshi S. · 已于 over 1 year前审核

Keshav S. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Pasumarthi G. · 已于 over 1 year前审核

Yash H. · 已于 over 1 year前审核

Adhithya A. · 已于 over 1 year前审核

Shouvanik S. · 已于 over 1 year前审核

Vikhash T. · 已于 over 1 year前审核

Darpan J. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnav P. · 已于 over 1 year前审核

B K Yuva kumar K. · 已于 over 1 year前审核