关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Jeet G. · 已于 over 1 year前审核

Rijubrata K. · 已于 over 1 year前审核

Thaduri P. · 已于 over 1 year前审核

IQBAL K. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Imran S. · 已于 over 1 year前审核

Kartik D. · 已于 over 1 year前审核

Ritesh S. · 已于 over 1 year前审核

AWESOME

SHIVAM K. · 已于 over 1 year前审核

Riya A. · 已于 over 1 year前审核

AWESOME

SHIVAM K. · 已于 over 1 year前审核

Maulida K. · 已于 over 1 year前审核

good

Kanishka G. · 已于 over 1 year前审核

Dhanush K. · 已于 over 1 year前审核

anindita s. · 已于 over 1 year前审核

Anindita S. · 已于 over 1 year前审核

good

Siddhant N. · 已于 over 1 year前审核

Satyam p. · 已于 over 1 year前审核

Ushnik N. · 已于 over 1 year前审核

Rishita M. · 已于 over 1 year前审核

PRATIK P. · 已于 over 1 year前审核

Lipsa Priyadarshini M. · 已于 over 1 year前审核

Paras R. · 已于 over 1 year前审核

pavan k. · 已于 over 1 year前审核

Yadhukrishnan R. · 已于 over 1 year前审核

Debanga K. · 已于 over 1 year前审核