关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Om M. · 已于 over 1 year前审核

Anshuman S. · 已于 over 1 year前审核

Turiya D. · 已于 over 1 year前审核

Partha Protim U. · 已于 over 1 year前审核

ummul q. · 已于 over 1 year前审核

Adithyan J. · 已于 over 1 year前审核

Nai H. · 已于 over 1 year前审核

Jishnu M. · 已于 over 1 year前审核

Rahul C. · 已于 over 1 year前审核

Adrija S. · 已于 over 1 year前审核

Kunal G. · 已于 over 1 year前审核

Prajakta Kapote G. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

UTTAM S. · 已于 over 1 year前审核

Navya G. · 已于 over 1 year前审核

nice

King G. · 已于 over 1 year前审核

Tech T. · 已于 over 1 year前审核

Satatya M. · 已于 over 1 year前审核

MANAV B. · 已于 over 1 year前审核

shravani k. · 已于 over 1 year前审核

Nivesh G. · 已于 over 1 year前审核

Areta V. · 已于 over 1 year前审核

Anamithra K. · 已于 over 1 year前审核

SUBHASMIT D. · 已于 over 1 year前审核

Juara G. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Sharfeena S. · 已于 over 1 year前审核