关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Christian A. · 已于 over 1 year前审核

Dimas S. · 已于 over 1 year前审核

Nithin T. · 已于 over 1 year前审核

Vandanapu Dilip K. · 已于 over 1 year前审核

E59_Divya K. · 已于 over 1 year前审核

Rahardyan P. · 已于 over 1 year前审核

Sanskruti W. · 已于 over 1 year前审核

Andika F. · 已于 over 1 year前审核

Angga A. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Rifai S. · 已于 over 1 year前审核

Gayatri C. · 已于 over 1 year前审核

NUR A. · 已于 over 1 year前审核

nice

Samruddhi P. · 已于 over 1 year前审核

Omkar K. · 已于 over 1 year前审核

Ach. Arif S. · 已于 over 1 year前审核

Pawan S. · 已于 over 1 year前审核

Listi F. · 已于 over 1 year前审核

jay y. · 已于 over 1 year前审核

Daivik S. · 已于 over 1 year前审核

Dicky I. · 已于 over 1 year前审核

good course

Muhammad A. · 已于 over 1 year前审核

Kiki P. · 已于 over 1 year前审核

SRUJAL P. · 已于 over 1 year前审核

SUDHEER K. · 已于 over 1 year前审核

Sy_A_57_Vedanshi_ S. · 已于 over 1 year前审核