关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Annisa S. · 已于 over 1 year前审核

Furqan R. · 已于 over 1 year前审核

good

Bhawna N. · 已于 over 1 year前审核

Shirish K. · 已于 over 1 year前审核

Tejas N. · 已于 over 1 year前审核

Mohammed S. · 已于 over 1 year前审核

muluka r. · 已于 over 1 year前审核

Ishika J. · 已于 over 1 year前审核

Hurt E. · 已于 over 1 year前审核

Naholi C. · 已于 over 1 year前审核

Rongrong W. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi B. · 已于 over 1 year前审核

MUKILAN B. · 已于 over 1 year前审核

Prerna M. · 已于 over 1 year前审核

Yana G. · 已于 over 1 year前审核

237_Alif A. · 已于 over 1 year前审核

alwi A. · 已于 over 1 year前审核

Avanthika C. · 已于 over 1 year前审核

Sangram S. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Jayesh B. · 已于 over 1 year前审核

Rutuja K. · 已于 over 1 year前审核

ADARSH K. · 已于 over 1 year前审核

Siddhesh C. · 已于 over 1 year前审核

Shebin T. · 已于 over 1 year前审核

Aditya J. · 已于 over 1 year前审核