关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Anandu S. · 已于 over 1 year前审核

Somnath G. · 已于 over 1 year前审核

Kaniska M. · 已于 over 1 year前审核

Kaustab C. · 已于 over 1 year前审核

Rahi P. · 已于 over 1 year前审核

apurva p. · 已于 over 1 year前审核

RAVI KIRAN L. · 已于 over 1 year前审核

arief s. · 已于 over 1 year前审核

Sbb G. · 已于 over 1 year前审核

nice lab

YJ H. · 已于 over 1 year前审核

Lekhit P. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad H. · 已于 over 1 year前审核

arief s. · 已于 over 1 year前审核

Jerry K. · 已于 over 1 year前审核

Agil F. · 已于 over 1 year前审核

ADITYA P. · 已于 over 1 year前审核

Lekhit P. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Z. · 已于 over 1 year前审核

Player 2. · 已于 over 1 year前审核

Aayush K. · 已于 over 1 year前审核

Novy Any W. · 已于 over 1 year前审核

abhimanyu s. · 已于 over 1 year前审核

PRAJEET M. · 已于 over 1 year前审核

PADMAKHEE C. · 已于 over 1 year前审核

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