关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mayur N. · 已于 over 1 year前审核

Nitin K. · 已于 over 1 year前审核

Omkar P. · 已于 over 1 year前审核

22-041 MUHAMMAD S. · 已于 over 1 year前审核

Sarah A. · 已于 over 1 year前审核

Good

Atharva D. · 已于 over 1 year前审核

SREERAJ K G. · 已于 over 1 year前审核

Naveen R. · 已于 over 1 year前审核

Nisfu Asrul S. · 已于 over 1 year前审核

Titiksha C. · 已于 over 1 year前审核

Janaki Rama Siva Sesha Sai T. · 已于 over 1 year前审核

Indrajit B. · 已于 over 1 year前审核

Renuka R. · 已于 over 1 year前审核

Ahmad Satya W. · 已于 over 1 year前审核

Deepak G. · 已于 over 1 year前审核

Satyam K. · 已于 over 1 year前审核

Ferdian K. · 已于 over 1 year前审核

Anurag S. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek P. · 已于 over 1 year前审核

Hajee A. · 已于 over 1 year前审核

ytrt

Arun P. · 已于 over 1 year前审核

Nusa B. · 已于 over 1 year前审核

Sukanya M. · 已于 over 1 year前审核

done

Amol C. · 已于 over 1 year前审核

Abhinav w. · 已于 over 1 year前审核