关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Aditya M. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh N. · 已于 over 1 year前审核

Parvez Thabarak V. · 已于 over 1 year前审核

Riya K. · 已于 over 1 year前审核

Goutham R G. · 已于 over 1 year前审核

Atharv R. · 已于 over 1 year前审核

Het K. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Arya B. · 已于 over 1 year前审核

Riya K. · 已于 over 1 year前审核

Riyu S. · 已于 over 1 year前审核

BRAMAN T. · 已于 over 1 year前审核

Harsh C. · 已于 over 1 year前审核

Avinash N. · 已于 over 1 year前审核

Sasi K. · 已于 over 1 year前审核

Aditia P. · 已于 over 1 year前审核

Avijit G. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Dzakwan A. · 已于 over 1 year前审核

Gagan M. · 已于 over 1 year前审核

Great

Suraj J. · 已于 over 1 year前审核

Lavannya D. · 已于 over 1 year前审核

Sneha G. · 已于 over 1 year前审核

Akshitha K. · 已于 over 1 year前审核

Janhavi P. · 已于 over 1 year前审核

Snigdha H. · 已于 over 1 year前审核

Alvin S. · 已于 over 1 year前审核