关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Najiya S. · 已于 over 1 year前审核

Yuraj S. · 已于 over 1 year前审核

Anamay S. · 已于 over 1 year前审核

Shubham S. · 已于 over 1 year前审核

Good

Donthula S. · 已于 over 1 year前审核

Asim B. · 已于 over 1 year前审核

Aakriti B. · 已于 over 1 year前审核

NAVEEN J. · 已于 over 1 year前审核

Sunny K. · 已于 over 1 year前审核

Praful P. · 已于 over 1 year前审核

Sipra S. · 已于 over 1 year前审核

Helma T. · 已于 over 1 year前审核

Manjunath L. · 已于 over 1 year前审核

Nisaa A. · 已于 over 1 year前审核

Pavan K. · 已于 over 1 year前审核

Sejal S. · 已于 over 1 year前审核

good

Rakhi G. · 已于 over 1 year前审核

Nadine v. · 已于 over 1 year前审核

CMVaishnavi G. · 已于 over 1 year前审核

Krishnanunni S. · 已于 over 1 year前审核

Surender N. · 已于 over 1 year前审核

Jayesh P. · 已于 over 1 year前审核

Soumya M. · 已于 over 1 year前审核

Dhaiu S. · 已于 over 1 year前审核

DHAIRYA S. · 已于 over 1 year前审核