关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Sumit prasad G. · 已于 over 1 year前审核

AJAY C. · 已于 over 1 year前审核

too good

Ahab A. · 已于 over 1 year前审核

Mohammed Z. · 已于 over 1 year前审核

Chaitanya Y. · 已于 over 1 year前审核

Reynaldy N. · 已于 over 1 year前审核

DEEPSHIKHA G. · 已于 over 1 year前审核

sial l. · 已于 over 1 year前审核

Mahesh K. · 已于 over 1 year前审核

Amisha Y. · 已于 over 1 year前审核

Djie V. · 已于 over 1 year前审核

shubham m. · 已于 over 1 year前审核

sai g. · 已于 over 1 year前审核

Muhammed Niyas G. · 已于 over 1 year前审核

Subham K. · 已于 over 1 year前审核

Good

Bhagyashree B. · 已于 over 1 year前审核

Rushikesh B. · 已于 over 1 year前审核

Rakesh T. · 已于 over 1 year前审核

I Gusti Bagus P. · 已于 over 1 year前审核

Srinidhi A. · 已于 over 1 year前审核

MANU R. · 已于 over 1 year前审核

RUMPA P. · 已于 over 1 year前审核

Shivam S. · 已于 over 1 year前审核

Shivam K. · 已于 over 1 year前审核

Dushant T. · 已于 over 1 year前审核