关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mohamed A. · 已于 over 1 year前审核

Shilpi S. · 已于 over 1 year前审核

Jalatarapu A. · 已于 over 1 year前审核

Swetha M. · 已于 over 1 year前审核

Shabd B. · 已于 over 1 year前审核

SHAHAB K. · 已于 over 1 year前审核

Manjunath H. · 已于 over 1 year前审核

Hashim E. · 已于 over 1 year前审核

Harshit G. · 已于 over 1 year前审核

Rahul S. · 已于 over 1 year前审核

Dhananjay M. · 已于 over 1 year前审核

Good

Satyam J. · 已于 over 1 year前审核

Arun T. · 已于 over 1 year前审核

Etherman N. · 已于 over 1 year前审核

nice

Eka W. · 已于 over 1 year前审核

Dany K. · 已于 over 1 year前审核

Jui P. · 已于 over 1 year前审核

OMKARA ANJANEYA KUMAR R. · 已于 over 1 year前审核

Saniya I. · 已于 over 1 year前审核

nice

Arch N. · 已于 over 1 year前审核

Tapasya B. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Saurabh K. · 已于 over 1 year前审核

Rozin A. · 已于 over 1 year前审核

MURARI K. · 已于 over 1 year前审核

Siddharth mohapatra G. · 已于 over 1 year前审核