关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

JSF R. · 已于 over 1 year前审核

Aanchal K. · 已于 over 1 year前审核

good

Anand S. · 已于 over 1 year前审核

Eshan S. · 已于 over 1 year前审核

Malihah R. · 已于 over 1 year前审核

KOMMAVARAPU V. · 已于 over 1 year前审核

Vaibhav P. · 已于 over 1 year前审核

Dhananjay M. · 已于 over 1 year前审核

Ardra G. · 已于 over 1 year前审核

Ramya C. · 已于 over 1 year前审核

Aditya k. · 已于 over 1 year前审核

Grishma G. · 已于 over 1 year前审核

Sahanur A. · 已于 over 1 year前审核

Ritu S. · 已于 over 1 year前审核

Shreya D. · 已于 over 1 year前审核

Ankit K. · 已于 over 1 year前审核

Anshima _. · 已于 over 1 year前审核

Priya P. · 已于 over 1 year前审核

Richard Alvin P. · 已于 over 1 year前审核

Satyam S. · 已于 over 1 year前审核

Himanshu H. · 已于 over 1 year前审核

Hemanshi M. · 已于 over 1 year前审核

Ankush N. · 已于 over 1 year前审核

Kallu K. · 已于 over 1 year前审核

Good

Sadew N. · 已于 over 1 year前审核