关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Chandu V. · 已于 over 1 year前审核

Nancy D. · 已于 over 1 year前审核

Malcolm S. · 已于 over 1 year前审核

Swapnadip S. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek R. · 已于 over 1 year前审核

Adith K. · 已于 over 1 year前审核

Sadaf K. · 已于 over 1 year前审核

tarun s. · 已于 over 1 year前审核

Baibhab A. · 已于 over 1 year前审核

Ajay k. · 已于 over 1 year前审核

Abdul N. · 已于 over 1 year前审核

mj 9. · 已于 over 1 year前审核

Murthy P. · 已于 over 1 year前审核

mj 9. · 已于 over 1 year前审核

Albertus V. · 已于 over 1 year前审核

Krithik Gokul S. · 已于 over 1 year前审核

Gurleen K. · 已于 over 1 year前审核

Arush J. · 已于 over 1 year前审核

Albertus V. · 已于 over 1 year前审核

nice

Ashiq B. · 已于 over 1 year前审核

Rain J. · 已于 over 1 year前审核

Sakshi K. · 已于 over 1 year前审核

Akhmad Thalibar R. · 已于 over 1 year前审核

Sana M. · 已于 over 1 year前审核

Vanshita S. · 已于 over 1 year前审核