关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Kaushal K. · 已于 over 1 year前审核

Nasny N. · 已于 over 1 year前审核

Very Good

Ali H. · 已于 over 1 year前审核

Shubham K. · 已于 over 1 year前审核

Devansh S. · 已于 over 1 year前审核

BUKU G. · 已于 over 1 year前审核

Sireesha G. · 已于 over 1 year前审核

CHAKKA NAGA VENKATA SATYA S. · 已于 over 1 year前审核

Isha J. · 已于 over 1 year前审核

Greeshma M. · 已于 over 1 year前审核

Manali C. · 已于 over 1 year前审核

Hoza M. · 已于 over 1 year前审核

Lokesh D. · 已于 over 1 year前审核

Nidhi R. · 已于 over 1 year前审核

Aman S. · 已于 over 1 year前审核

Amit s K. · 已于 over 1 year前审核

DAVID ROSARIO SELVARAJ U. · 已于 over 1 year前审核

anish j. · 已于 over 1 year前审核

IMAN S. · 已于 over 1 year前审核

Wildan F. · 已于 over 1 year前审核

Lokeshwari V. · 已于 over 1 year前审核

WorkHard S. · 已于 over 1 year前审核

Tejjan A. · 已于 over 1 year前审核

Andry Syva M. · 已于 over 1 year前审核

Pradip G. · 已于 over 1 year前审核