关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Pratik M. · 已于 over 1 year前审核

nice

Aditya Mohan S. · 已于 over 1 year前审核

Suneel P. · 已于 over 1 year前审核

Chandan C. · 已于 over 1 year前审核

Abhijeet M. · 已于 over 1 year前审核

Robin D. · 已于 over 1 year前审核

R K. · 已于 over 1 year前审核

KINJAL K. · 已于 over 1 year前审核

Jayesh P. · 已于 over 1 year前审核

Riki W. · 已于 over 1 year前审核

Shubham B. · 已于 over 1 year前审核

Riki W. · 已于 over 1 year前审核

Subhrajyoti P. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Yusuf R. · 已于 over 1 year前审核

Seershika B. · 已于 over 1 year前审核

Great

Dwi Putri A S. · 已于 over 1 year前审核

Akash M. · 已于 over 1 year前审核

Akash S. · 已于 over 1 year前审核

Maila F. · 已于 over 1 year前审核

Vinay J. · 已于 over 1 year前审核

14_P. M.Rajkumar R. · 已于 over 1 year前审核

Sougata S. · 已于 over 1 year前审核

Chayan S. · 已于 over 1 year前审核

Phantom B. · 已于 over 1 year前审核

Nichol N. · 已于 over 1 year前审核