关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Navaneed G. · 已于 over 1 year前审核

Prem K. · 已于 over 1 year前审核

Udayakrishna D. · 已于 over 1 year前审核

jjnjnj

Sandeep S. · 已于 over 1 year前审核

Sahil Prasad G. · 已于 over 1 year前审核

Alvaro G. · 已于 over 1 year前审核

athul m. · 已于 over 1 year前审核

Purva D. · 已于 over 1 year前审核

Kanav S. · 已于 over 1 year前审核

Fariz A. · 已于 over 1 year前审核

LULU S. · 已于 over 1 year前审核

nice

Tanish g. · 已于 over 1 year前审核

Hasyim Y. · 已于 over 1 year前审核

Tushar J. · 已于 over 1 year前审核

Chetana M. · 已于 over 1 year前审核

Shristi T. · 已于 over 1 year前审核

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Prathamesh P. · 已于 over 1 year前审核

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Aditya J. · 已于 over 1 year前审核

Anushka S. · 已于 over 1 year前审核

Utkarsh B. · 已于 over 1 year前审核

best

CSE_Subhrajyoti B. · 已于 over 1 year前审核