关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Tino S. · 已于 over 1 year前审核

great

Ammar F. · 已于 over 1 year前审核

Disha S. · 已于 over 1 year前审核

Rolas N. · 已于 over 1 year前审核

Nikhil S. · 已于 over 1 year前审核

Anitha T. · 已于 over 1 year前审核

good

FAS Technic G. · 已于 over 1 year前审核

Ravi kiran G. · 已于 over 1 year前审核

Soham R. · 已于 over 1 year前审核

Chandra P. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad R. · 已于 over 1 year前审核

Adarsh M. · 已于 over 1 year前审核

nice

Abhinav Kumar J. · 已于 over 1 year前审核

Vedant P. · 已于 over 1 year前审核

Bomminayuni J. · 已于 over 1 year前审核

yuval j. · 已于 over 1 year前审核

nice

Jeshika G. · 已于 over 1 year前审核

very good

Yogi, S. · 已于 over 1 year前审核

Utsab S. · 已于 over 1 year前审核

Ivan Arsyaditya P. · 已于 over 1 year前审核

kashyap a. · 已于 over 1 year前审核

Mister T. · 已于 over 1 year前审核

Slime T. · 已于 over 1 year前审核

Aman Kumar M. · 已于 over 1 year前审核

Dhaiu S. · 已于 over 1 year前审核