关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Parthiv K. · 已于 over 1 year前审核

Anugrah D. · 已于 over 1 year前审核

raj G. · 已于 over 1 year前审核

Hasbi H. · 已于 over 1 year前审核

Fani W. · 已于 over 1 year前审核

NIKITA J. · 已于 over 1 year前审核

cool

Makmurry A. · 已于 over 1 year前审核

Ashreen T. · 已于 over 1 year前审核

A M. · 已于 over 1 year前审核

kavya m. · 已于 over 1 year前审核

Anugrah D. · 已于 over 1 year前审核

Soudipta M. · 已于 over 1 year前审核

Nikhil A. · 已于 over 1 year前审核

Janvi G. · 已于 over 1 year前审核

Pawan S. · 已于 over 1 year前审核

tanmayee k. · 已于 over 1 year前审核

Abel M. · 已于 over 1 year前审核

Akash P. · 已于 over 1 year前审核

Janak M. · 已于 over 1 year前审核

nn

Harshi R. · 已于 over 1 year前审核

Rujuta D. · 已于 over 1 year前审核

Sudhakar S. · 已于 over 1 year前审核

Tejaswi P. · 已于 over 1 year前审核

R.V. Darsan G. · 已于 over 1 year前审核

HETVI R. · 已于 over 1 year前审核