关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Vanshika J. · 已于 over 1 year前审核

Muskan K. · 已于 over 1 year前审核

Keshav A. · 已于 over 1 year前审核

Muskan K. · 已于 over 1 year前审核

Ankisha G. · 已于 over 1 year前审核

Harshada P. · 已于 over 1 year前审核

Sudarsh C. · 已于 over 1 year前审核

Shubhansh G. · 已于 over 1 year前审核

Nice

SUMIT S. · 已于 over 1 year前审核

Arya G. · 已于 over 1 year前审核

Ari P. · 已于 over 1 year前审核

Ishika B. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad R. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika v. · 已于 over 1 year前审核

Mohini B. · 已于 over 1 year前审核

SK DULAL I. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek P. · 已于 over 1 year前审核

Tanisha G. · 已于 over 1 year前审核

Suresh V. · 已于 over 1 year前审核

Nabamit D. · 已于 over 1 year前审核

SonGokū ゴ. · 已于 over 1 year前审核

Aditya N. · 已于 over 1 year前审核

Chirayu V. · 已于 over 1 year前审核

KARTIKEY N. · 已于 over 1 year前审核