关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Arosh G. · 已于 over 1 year前审核

Sainath G. · 已于 over 1 year前审核

Rahi P. · 已于 over 1 year前审核

Kunal D. · 已于 over 1 year前审核

Satyam M. · 已于 over 1 year前审核

Good

Om K. · 已于 over 1 year前审核

pranita n. · 已于 over 1 year前审核

Abhra T. · 已于 over 1 year前审核

Aditi G. · 已于 over 1 year前审核

AMARESWAR CHOWDARY N. · 已于 over 1 year前审核

BIDISHA SONUSAUMYA B. · 已于 over 1 year前审核

pratik b. · 已于 over 1 year前审核

Tadvab P. · 已于 over 1 year前审核

Zam Walton P M G. · 已于 over 1 year前审核

konduru k. · 已于 over 1 year前审核

Padala P. · 已于 over 1 year前审核

Rohit Sridhar L. · 已于 over 1 year前审核

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Saumitra P. · 已于 over 1 year前审核

Anshul C. · 已于 over 1 year前审核

Athira S. · 已于 over 1 year前审核

agung d. · 已于 over 1 year前审核

Pranshu S. · 已于 over 1 year前审核

Shruti Y. · 已于 over 1 year前审核

Arpita S. · 已于 over 1 year前审核