关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Lavlesh s. · 已于 over 1 year前审核

Dhiksha C. · 已于 over 1 year前审核

OMENDRA S. · 已于 over 1 year前审核

Prerna R. · 已于 over 1 year前审核

Ronit N. · 已于 over 1 year前审核

Divya D. · 已于 over 1 year前审核

Priyanka k. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Ayush A. · 已于 over 1 year前审核

Good lab

Kruthi Vaishnavi P. · 已于 over 1 year前审核

Shalini N. · 已于 over 1 year前审核

Puru S. · 已于 over 1 year前审核

Ronit N. · 已于 over 1 year前审核

Vasanth kumar K. · 已于 over 1 year前审核

Kunal S. · 已于 over 1 year前审核

Nivedita S. · 已于 over 1 year前审核

Karnika G. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika F. · 已于 over 1 year前审核

Sohan P. · 已于 over 1 year前审核

Dhaval V. · 已于 over 1 year前审核

Sayon S. · 已于 over 1 year前审核

Onkar H. · 已于 over 1 year前审核

Tree G. · 已于 over 1 year前审核

Kannika Mahesh D. · 已于 over 1 year前审核

Dheeraj D. · 已于 over 1 year前审核

Satnam Singh M. · 已于 over 1 year前审核