关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

good

Tanvi D. · 已于 over 1 year前审核

I Dewa Made R. · 已于 over 1 year前审核

Ventapalli S. · 已于 over 1 year前审核

Sumukh M. · 已于 over 1 year前审核

Akbar I. · 已于 over 1 year前审核

Yayes Kasnanda B. · 已于 over 1 year前审核

Shreya T. · 已于 over 1 year前审核

Praveen S. · 已于 over 1 year前审核

Rahul K. · 已于 over 1 year前审核

Mohit S. · 已于 over 1 year前审核

Devansh M. · 已于 over 1 year前审核

Udita C. · 已于 over 1 year前审核

awesome

Dandi l. · 已于 over 1 year前审核

Aditya P. · 已于 over 1 year前审核

Ujwal B. · 已于 over 1 year前审核

Prabhakaran J. · 已于 over 1 year前审核

Nitya Z. · 已于 over 1 year前审核

nice

Krishnesh T. · 已于 over 1 year前审核

Thomas K. · 已于 over 1 year前审核

Athulyakrishna G. · 已于 over 1 year前审核

Piyush R. · 已于 over 1 year前审核

Polani Keerthi V. · 已于 over 1 year前审核

Irdan G. · 已于 over 1 year前审核

Dhruv P. · 已于 over 1 year前审核

Suresh R. · 已于 over 1 year前审核