关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

BATTULA V. · 已于 over 1 year前审核

Pratik J. · 已于 over 1 year前审核

Yashika C. · 已于 over 1 year前审核

SAURAVE V S T. · 已于 over 1 year前审核

SAI BHAVYA S. · 已于 over 1 year前审核

Mohamad Arif M. · 已于 over 1 year前审核

Omkar P. · 已于 over 1 year前审核

ff

Jaydip R. · 已于 over 1 year前审核

excellent

ATUL K. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi M. · 已于 over 1 year前审核

Sneha J. · 已于 over 1 year前审核

Ni Made W. · 已于 over 1 year前审核

Nice Lab

Udit V. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek K. · 已于 over 1 year前审核

Preetam S. · 已于 over 1 year前审核

Eveline J. · 已于 over 1 year前审核

Vaibhav S. · 已于 over 1 year前审核

Ganesh S. · 已于 over 1 year前审核

srusti p. · 已于 over 1 year前审核

Sheetal K. · 已于 over 1 year前审核

Vivek C. · 已于 over 1 year前审核

Ved R. · 已于 over 1 year前审核

Prachi U. · 已于 over 1 year前审核

Aditi t. · 已于 over 1 year前审核

Rohit T. · 已于 over 1 year前审核