关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Udit S. · 已于 over 1 year前审核

Latif A. · 已于 over 1 year前审核

MOHD M. · 已于 over 1 year前审核

Manikandan K. · 已于 over 1 year前审核

Omkar S. · 已于 over 1 year前审核

G K. · 已于 over 1 year前审核

Satria Kries B. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika S. · 已于 over 1 year前审核

thx

SATNAM .. · 已于 over 1 year前审核

Harshada S. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad F. · 已于 over 1 year前审核

Jas K. · 已于 over 1 year前审核

Anandita D. · 已于 over 1 year前审核

Harsh S. · 已于 over 1 year前审核

nice lab

Muskan S. · 已于 over 1 year前审核

Parth r. · 已于 over 1 year前审核

Mohammed Z. · 已于 over 1 year前审核

134_CSE_SUBHADEEP BANERJEE G. · 已于 over 1 year前审核

TANISHA G. · 已于 over 1 year前审核

Kashish G. · 已于 over 1 year前审核

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Ridho Hery W. · 已于 over 1 year前审核

Ridho Hery W. · 已于 over 1 year前审核

Swapnil D. · 已于 over 1 year前审核

Yudya G. · 已于 over 1 year前审核

NAIDU LEELA KRISHNA S. · 已于 over 1 year前审核