关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

farheensaba s. · 已于 over 1 year前审核

Khushi K. · 已于 over 1 year前审核

Sentot S. · 已于 over 1 year前审核

Rittwika D. · 已于 over 1 year前审核

kadiyala p. · 已于 over 1 year前审核

Alpa R. · 已于 over 1 year前审核

Sankhya L. · 已于 over 1 year前审核

Yulia V. · 已于 over 1 year前审核

Varsha S. · 已于 over 1 year前审核

Nova Y. · 已于 over 1 year前审核

Dwi S. · 已于 over 1 year前审核

Saketh N. · 已于 over 1 year前审核

Sabir M. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Ilham B. · 已于 over 1 year前审核

Happy Y. · 已于 over 1 year前审核

Satya N. · 已于 over 1 year前审核

Satya M. · 已于 over 1 year前审核

Great

Nandini Y. · 已于 over 1 year前审核

Vansh g. · 已于 over 1 year前审核

Saharsh S. · 已于 over 1 year前审核

Kartik H. · 已于 over 1 year前审核

great

Nikita S. · 已于 over 1 year前审核

Galih E. · 已于 over 1 year前审核

Yogeshwaran s. · 已于 over 1 year前审核

BUKU G. · 已于 over 1 year前审核