关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Harshit P. · 已于 over 1 year前审核

Chetan K. · 已于 over 1 year前审核

Aditi N. · 已于 over 1 year前审核

Aastha Y. · 已于 over 1 year前审核

Ajinkya K. · 已于 over 1 year前审核

Pranjal G. · 已于 over 1 year前审核

Taranjit S. · 已于 over 1 year前审核

octane g. · 已于 over 1 year前审核

skanda A. · 已于 over 1 year前审核

Ravindra K. · 已于 over 1 year前审核

yans y. · 已于 over 1 year前审核

Harsh V. · 已于 over 1 year前审核

Priyanshi P. · 已于 over 1 year前审核

good lab

CHARITH S. · 已于 over 1 year前审核

nice

Mikhail C. · 已于 over 1 year前审核

Pradyumna S. · 已于 over 1 year前审核

Aditi N. · 已于 over 1 year前审核

Kaustubh K. · 已于 over 1 year前审核

Sumit S. · 已于 over 1 year前审核

Aditi N. · 已于 over 1 year前审核

good

Megha J. · 已于 over 1 year前审核

good

YANAMALA KETHAN R. · 已于 over 1 year前审核

054 S. · 已于 over 1 year前审核

Dhvani P. · 已于 over 1 year前审核