关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

belliny K. · 已于 over 1 year前审核

JaeHyun Y. · 已于 over 1 year前审核

Lloyd W. · 已于 over 1 year前审核

Arpit S. · 已于 over 1 year前审核

Duseok R. · 已于 over 1 year前审核

joonha L. · 已于 over 1 year前审核

JaeHoon L. · 已于 over 1 year前审核

Andrii B. · 已于 over 1 year前审核

Eugene Minwhoan K. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Ruddraksh P. · 已于 over 1 year前审核

good

Lina L. · 已于 over 1 year前审核

영찬 김. · 已于 over 1 year前审核

Charan K. · 已于 over 1 year前审核

유리 홍. · 已于 over 1 year前审核

Aditya P. · 已于 over 1 year前审核

Kaizin P. · 已于 over 1 year前审核

Great!

Chaitanya D. · 已于 over 1 year前审核

Sagar M. · 已于 over 1 year前审核

Purva s. · 已于 over 1 year前审核

David W. · 已于 over 1 year前审核

희태 최. · 已于 over 1 year前审核

SangKug C. · 已于 over 1 year前审核

손 경. · 已于 over 1 year前审核

Sana M. · 已于 over 1 year前审核

Samuel C. · 已于 over 1 year前审核