关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Byeonghyeon P. · 已于 over 1 year前审核

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Roshan V. · 已于 over 1 year前审核

Vishal P. · 已于 over 1 year前审核

기원 이. · 已于 over 1 year前审核

Vitalii B. · 已于 over 1 year前审核

재민 현. · 已于 over 1 year前审核

Wonjin S. · 已于 over 1 year前审核

상재 변. · 已于 over 1 year前审核

Gustavo Kazuiti M. · 已于 over 1 year前审核

DevLuce 최. · 已于 over 1 year前审核

nice

Krushna chandra B. · 已于 over 1 year前审核

인철 조. · 已于 over 1 year前审核

analytics d. · 已于 over 1 year前审核

Rajesh K. · 已于 over 1 year前审核

Haifa A. · 已于 over 1 year前审核

Varun S. · 已于 over 1 year前审核

승준 백. · 已于 over 1 year前审核

Gokul M. · 已于 over 1 year前审核

Deepanshu T. · 已于 over 1 year前审核

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Gi Mun L. · 已于 over 1 year前审核

Minjae G. · 已于 over 1 year前审核

Ripan G. · 已于 over 1 year前审核

주호 이. · 已于 over 1 year前审核