关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Rahmad F. · 已于 over 1 year前审核

아영 김. · 已于 over 1 year前审核

Vijay G. · 已于 over 1 year前审核

SUN J. · 已于 over 1 year前审核

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VISAL T. · 已于 over 1 year前审核

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상필 박. · 已于 over 1 year前审核

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AYUSH KUMAR S. · 已于 over 1 year前审核

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Lee Y. · 已于 over 1 year前审核

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Abhishek G. · 已于 over 1 year前审核

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Dhanush R. · 已于 over 1 year前审核