关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Jessica P. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi R. · 已于 over 1 year前审核

Ovo O. · 已于 over 1 year前审核

Rajeev S. · 已于 over 1 year前审核

Meetkumar V. · 已于 over 1 year前审核

Uttam Kumar S. · 已于 over 1 year前审核

Sanskar S. · 已于 over 1 year前审核

Harshad S. · 已于 over 1 year前审核

Jivan K. · 已于 over 1 year前审核

DIGANTIKA S. · 已于 over 1 year前审核

Kashish P. · 已于 over 1 year前审核

耕平 石. · 已于 over 1 year前审核

Lakshmi Narayana V. · 已于 over 1 year前审核

Sujal M. · 已于 over 1 year前审核

Debayan K. · 已于 over 1 year前审核

Sougata P. · 已于 over 1 year前审核

Mohammed E. · 已于 over 1 year前审核

Víctor R. · 已于 over 1 year前审核

Ren Jacob C. · 已于 over 1 year前审核

Srijib D. · 已于 over 1 year前审核

Zivile L. · 已于 over 1 year前审核

Ray G. · 已于 over 1 year前审核

PINAKI S. · 已于 over 1 year前审核

Good

N.Praneeth G. · 已于 over 1 year前审核

PHANI G. · 已于 over 1 year前审核