关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Good.

Ruargh S. · 已于 about 1 year前审核

Akash C. · 已于 about 1 year前审核

Abhishek M. · 已于 about 1 year前审核

Renish A. · 已于 about 1 year前审核

JAIKEY S. · 已于 about 1 year前审核

Francisco Jose G. · 已于 about 1 year前审核

good lab

Ayushman N. · 已于 about 1 year前审核

Munyim H. · 已于 about 1 year前审核

Anjanamol R. · 已于 about 1 year前审核

Kritansh T. · 已于 over 1 year前审核

Terence S. · 已于 over 1 year前审核

Piotr B. · 已于 over 1 year前审核

Piotr B. · 已于 over 1 year前审核

Matin N. · 已于 over 1 year前审核

Ritu R. · 已于 over 1 year前审核

DEVU V. · 已于 over 1 year前审核

Arji B. · 已于 over 1 year前审核

敬源 黃. · 已于 over 1 year前审核

Rose C. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek S. · 已于 over 1 year前审核

Saurabh Kumar S. · 已于 over 1 year前审核

Amit D. · 已于 over 1 year前审核

Deepnita M. · 已于 over 1 year前审核

Vivek I. · 已于 over 1 year前审核

Samuel C. · 已于 over 1 year前审核