关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Irwan P. · 已于 about 1 year前审核

CHANDRA SEKHAR D. · 已于 about 1 year前审核

Ayush V. · 已于 about 1 year前审核

Amit D. · 已于 about 1 year前审核

Md. Mokit H. · 已于 about 1 year前审核

Sujay H. · 已于 about 1 year前审核

Babatunde Abib O. · 已于 about 1 year前审核

Gauri S. · 已于 about 1 year前审核

Rik S. · 已于 about 1 year前审核

Harold M. · 已于 about 1 year前审核

Komal P. · 已于 about 1 year前审核

Paweł R. · 已于 about 1 year前审核

Ayandip G. · 已于 about 1 year前审核

Rakshit M. · 已于 about 1 year前审核

Pravin T. · 已于 about 1 year前审核

Gabriela N. · 已于 about 1 year前审核

krishna k. · 已于 about 1 year前审核

Pooja B. · 已于 about 1 year前审核

Vikram S. · 已于 about 1 year前审核

Wasim H. · 已于 about 1 year前审核

Amal J. · 已于 about 1 year前审核

Arpan J. · 已于 about 1 year前审核

Rosemarie S. · 已于 about 1 year前审核

Emiliano S. · 已于 about 1 year前审核

Siddhraj Subhash G. · 已于 about 1 year前审核