Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

AIML_23 G. · Відгук надано близько 14 годин тому

Soniya S. · Відгук надано 1 день тому

Sutiksn A G. · Відгук надано 1 день тому

Kalyani G. · Відгук надано 1 день тому

Dhruv G. · Відгук надано 1 день тому

Karthi R. · Відгук надано 1 день тому

Ayush R. · Відгук надано 2 дні тому

Adarsh Kumar D. · Відгук надано 2 дні тому

Manmohan B. · Відгук надано 2 дні тому

RITESH C. · Відгук надано 2 дні тому

Debjit P. · Відгук надано 2 дні тому

Eshan S. · Відгук надано 2 дні тому

Rohit K. · Відгук надано 3 дні тому

Nishant C. · Відгук надано 3 дні тому

Umesh Tharuka M. · Відгук надано 3 дні тому

Dee R. · Відгук надано 3 дні тому

Mradul D. · Відгук надано 3 дні тому

Vivek K. · Відгук надано 3 дні тому

Syed Z. · Відгук надано 3 дні тому

Tushar C. · Відгук надано 3 дні тому

Dibyendu M. · Відгук надано 4 дні тому

Anil E. · Відгук надано 4 дні тому

Himavarshini B. · Відгук надано 5 днів тому

Pavan K. · Відгук надано 5 днів тому

Trupti Y. · Відгук надано 5 днів тому