Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Niranjan K. · Відгук надано 3 місяці тому

SOMESHWAR S. · Відгук надано 3 місяці тому

Urmila T. · Відгук надано 3 місяці тому

Shubham K. · Відгук надано 3 місяці тому

Dibyesh M. · Відгук надано 3 місяці тому

Shailesh S. · Відгук надано 3 місяці тому

sourav P. · Відгук надано 3 місяці тому

Chittranshi G. · Відгук надано 3 місяці тому

sopan c. · Відгук надано 3 місяці тому

Satyendra P. · Відгук надано 3 місяці тому

Trishir M. · Відгук надано 3 місяці тому

Surya Pratap D. · Відгук надано 3 місяці тому

Shubham P. · Відгук надано 3 місяці тому

PRITAM B. · Відгук надано 3 місяці тому

SARAN S. · Відгук надано 3 місяці тому

ROYER AMED L. · Відгук надано 3 місяці тому

Nikhil A. · Відгук надано 3 місяці тому

Kaushal P. · Відгук надано 3 місяці тому

Nitin G. · Відгук надано 3 місяці тому

Manish K. · Відгук надано 3 місяці тому

Himanshu J. · Відгук надано 3 місяці тому

Hetkumar Mahendrabhai p. · Відгук надано 3 місяці тому

Bhawana A. · Відгук надано 3 місяці тому

Harsh Kumar Singh G. · Відгук надано 3 місяці тому

Vaibhavi K. · Відгук надано 3 місяці тому