Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Samsuddin R. · Відгук надано 3 місяці тому

Aditi S. · Відгук надано 3 місяці тому

Shrawani M. · Відгук надано 3 місяці тому

Sontireddy R. · Відгук надано 3 місяці тому

Sumit M. · Відгук надано 3 місяці тому

Aabid A. · Відгук надано 3 місяці тому

武 岳. · Відгук надано 3 місяці тому

Anjali Vivek P. · Відгук надано 3 місяці тому

YUE W. · Відгук надано 3 місяці тому

vijaykumar h. · Відгук надано 3 місяці тому

Vaishnavi K. · Відгук надано 3 місяці тому

Sakshi Kumari G. · Відгук надано 3 місяці тому

karan m. · Відгук надано 3 місяці тому

Ayushman S. · Відгук надано 3 місяці тому

Kahan M. · Відгук надано 3 місяці тому

R Sai Sathvik G. · Відгук надано 3 місяці тому

Tevin O. · Відгук надано 3 місяці тому

Federico M. · Відгук надано 3 місяці тому

Laxmish H. · Відгук надано 3 місяці тому

Prachi M. · Відгук надано 3 місяці тому

jatinveer s. · Відгук надано 3 місяці тому

Shubham P. · Відгук надано 3 місяці тому

Shubham P. · Відгук надано 3 місяці тому

Ashutosh M. · Відгук надано 3 місяці тому

Brijesh G. · Відгук надано 3 місяці тому