Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Aman U. · Відгук надано більше 1 року тому

Joydeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed Abul H. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek M. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

S G S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shahvez M. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan S. · Відгук надано більше 1 року тому

mantul

Pan Pan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Navalpreet K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anurag S. · Відгук надано більше 1 року тому

Taufan E. · Відгук надано більше 1 року тому

Sri W. · Відгук надано більше 1 року тому

Furqon N. · Відгук надано більше 1 року тому

awesome

Agung P. · Відгук надано більше 1 року тому

Manashri K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik J. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik J. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Tarun M. · Відгук надано більше 1 року тому

Prasenjit D. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivamdeep G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ansh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Marcel A. · Відгук надано більше 1 року тому

Veerappan V. · Відгук надано більше 1 року тому

PALASH D. · Відгук надано більше 1 року тому

Palash D. · Відгук надано більше 1 року тому