Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Nishtha A. · Відгук надано більше 1 року тому

MALAY J. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay B. · Відгук надано більше 1 року тому

Ko Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Anuj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sharath R. · Відгук надано більше 1 року тому

Manogari S. · Відгук надано більше 1 року тому

Manogari S. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharva K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit R. · Відгук надано більше 1 року тому

Kshitij Kumar K. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Garima S. · Відгук надано більше 1 року тому

kedai s. · Відгук надано більше 1 року тому

Shio M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mehul T. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumitra G. · Відгук надано більше 1 року тому

Wiyan Herra H. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratham A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratham A. · Відгук надано більше 1 року тому

Arie L. · Відгук надано більше 1 року тому

Manan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Raunak K. · Відгук надано більше 1 року тому

Heramb C. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Chandan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham P. · Відгук надано більше 1 року тому