Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Indri S. · Відгук надано більше 1 року тому

Indri Sri H. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinayak Kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya N. · Відгук надано більше 1 року тому

AMBALLA V. · Відгук надано більше 1 року тому

Nahri K. · Відгук надано більше 1 року тому

Claudio C. · Відгук надано більше 1 року тому

Raghumithra Reddy P. · Відгук надано більше 1 року тому

Devyansh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayyan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nazreen F. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashi V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinesh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Avdhoot K. · Відгук надано більше 1 року тому

Albertus C. · Відгук надано більше 1 року тому

Lekhit P. · Відгук надано більше 1 року тому

Prakhar B. · Відгук надано більше 1 року тому

Gautam P. · Відгук надано більше 1 року тому

Clemira A. · Відгук надано більше 1 року тому

vaibhav n. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivanshu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rehan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Suman B. · Відгук надано більше 1 року тому