Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Luqman H. · Відгук надано більше 1 року тому

Rinakshi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Gastón C. · Відгук надано більше 1 року тому

sandeep kumar gupta G. · Відгук надано більше 1 року тому

BAHRUL H. · Відгук надано більше 1 року тому

Vikas S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashish S. · Відгук надано більше 1 року тому

Armin M. · Відгук надано більше 1 року тому

Bharath Kumar A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik C. · Відгук надано більше 1 року тому

Bruno L. · Відгук надано більше 1 року тому

Arin C. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnav G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabrisha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Mayureshwar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudip K. · Відгук надано більше 1 року тому

Boyinapalli Phani S. · Відгук надано більше 1 року тому

Srushti G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prince K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vrinda T. · Відгук надано більше 1 року тому

weg

Devashish S. · Відгук надано більше 1 року тому

NILOFAR j. · Відгук надано більше 1 року тому

Subransu Sekhar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumitra G. · Відгук надано більше 1 року тому