Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pavitra M. · Відгук надано більше 1 року тому

Zhang You T. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak V. · Відгук надано більше 1 року тому

Nina R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rehan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahesh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Vipin D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarthak N. · Відгук надано більше 1 року тому

Yasharth G. · Відгук надано більше 1 року тому

AYAN C. · Відгук надано більше 1 року тому

Payel M. · Відгук надано більше 1 року тому

sudipto m. · Відгук надано більше 1 року тому

Martinez A. · Відгук надано більше 1 року тому

Yang C. · Відгук надано більше 1 року тому

Javi Y. · Відгук надано більше 1 року тому

YouTube J. · Відгук надано більше 1 року тому

SUBHASHISH G. · Відгук надано більше 1 року тому

jvai j. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivani A. · Відгук надано більше 1 року тому

Tushar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Parth M. · Відгук надано більше 1 року тому

Pabbisetty P. · Відгук надано більше 1 року тому

Baban J. · Відгук надано більше 1 року тому

suraj pritam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Raga A. · Відгук надано більше 1 року тому